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华虹半导体申请极板电容结构及其制造方法专利显著改善漏电、击穿电压及TDDB可靠性
浏览量:    所属栏目:【产品分类一】    时间:2025-11-09

  金融界2025年8月5日消息,国家知识产权局信息显示,华虹半导体制造(无锡)有限公司申请一项名为“极板电容结构及其制造方法”的专利,公开号CN120417399A,申请日期为2025年04月。

  专利摘要显示,本发明提供一种极板电容结构,包括:衬底上的第一层间介质层、凸形介质阻挡层、堆叠的下极板金属层、第二层间介质层及刻蚀阻挡层;覆盖叠层结构的第三层间介质层;穿透第三层间介质层的第一接触孔、第二接触孔及上极板凹槽。第一接触孔延伸至第一层间介质层,第二接触孔延伸至下极板金属层,上极板凹槽延伸至第二层间介质层。各孔及凹槽内填充带Ti/TiN阻挡层的铜金属层,其中铜作为上极板,TiN作为下极板。制造方法通过光刻刻蚀叠层结构、保留介质阻挡层、分步刻蚀接触孔及凹槽,并集成铜填充工艺。

  天眼查资料显示,华虹半导体制造(无锡)有限公司,成立于2022年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本402000万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体制造(无锡)有限公司参与招投标项目374次,专利信息46条,此外企业还拥有行政许可226个。


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